Analizador de oro y metales preciosos XRF GEMORO®
Analizador de oro y metales preciosos XRF GEMORO®
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Especificaciones del producto
Especificaciones del producto
Seguridad, Cumplimiento y Documentación del Producto
Seguridad, Cumplimiento y Documentación del Producto
Hoja de Datos Técnicos
Descripción del Producto
Nuestro GEMORO XRF es un espectrómetro XRF de dispersión de energía, portátil y de mano, diseñado para joyeros minoristas, casas de empeño, tasadores, compradores de metales preciosos y fabricantes. Los usuarios pueden beneficiarse de esta tecnología rápida y eficiente, identificando y midiendo rápidamente cada elemento en joyas, monedas, relojes y más. Este XRF fácil de usar, rápido y preciso es liviano, pero lo suficientemente resistente como para usarlo durante todo el día. La fluorescencia de rayos X o XRF es un método analítico no destructivo que se utiliza para determinar las concentraciones elementales de varios materiales en la superficie de lo que se está analizando. Es importante reconocer que no todos los analizadores XRF tienen las mismas capacidades.
El analizador GEMORO XRF mide con precisión una amplia gama de elementos de metales preciosos, lo que lo convierte en una herramienta imprescindible para los profesionales de la industria. Con tecnología avanzada, este dispositivo proporciona resultados precisos para pruebas y análisis. Dado que el XRF lee la composición de la superficie, los artículos chapados —especialmente el oro chapado en plata, cobre o metales básicos— pueden parecer oro macizo si solo se analiza la capa exterior. Para mejorar la precisión, pruebe la superficie original primero, luego lime un pequeño punto y vuelva a probar esa ubicación exacta. Esta segunda prueba le da al analizador una mejor penetración a través de cualquier chapado, lo que le permite medir Zinc (Zn), Cobre (Cu), Níquel (Ni) o Plata (Ag) que puedan estar presentes en concentraciones más altas de lo normal que exceden los estándares de fabricación típicos. Además de las concentraciones elevadas de Zn, Cu, Ni o Ag para indicar un posible chapado, también se debe tener en cuenta si/cuando el tungsteno (W) está presente en cualquier concentración, ya que esto es un indicador directo de que la muestra está chapada. El tungsteno se usa ampliamente para materiales con relleno de oro.
El GEMORO XRF determina el porcentaje de cada elemento, midiendo exhaustivamente un área de 1.5 mm de diámetro mientras alcanza una profundidad robusta de 15-20 micras. Cinco veces la profundidad típica del chapado en oro, que tiene un grosor de solo 1-3 micras. Este instrumento de última generación representa una alternativa de alta tecnología a un ensayo destructivo por fuego. El GEMORO XRF incluye dos baterías recargables de larga duración de 6 horas con un adaptador de CA. Los usuarios tienen la capacidad de establecer un parámetro de acceso con contraseña para administrar el acceso de los usuarios. Las capacidades de conexión WiFi/Bluetooth/USB le permiten enviar rápidamente imágenes de muestras y resultados de pruebas a su computadora para un fácil archivo. Esta unidad rica en funciones viene con un estuche Pelican protector para garantizar que llegue en perfectas condiciones y le permite llevarla al campo. Para el análisis de piezas pequeñas, está disponible un kit de conversión de estación de acoplamiento de sobremesa que permite al usuario anclar el dispositivo XRF a una mesa conectándolo a una base mientras está posicionado de forma segura en posición vertical. Tenga en cuenta que este artículo se envía directamente desde el fabricante y hay un costo de envío fijo de $175.00 que cubre el flete y el seguro. Si se añade la estación de acoplamiento anterior y se envía con el analizador (8171118 y 8171119), el costo de envío fijo será de $225.00. El pago total debe realizarse en el momento del procesamiento del pedido.
Especificaciones:
Área de prueba: 4 mm de diámetro
Profundidad de medición: 10-20 micras
Vida útil esperada del tubo: 8,000 horas o 2.8M ~10 segundos de pruebas
Especificaciones del tubo: 40K V, 200uA Ánodo de Rh, 1 haz
Tasa del detector 7 mm2 SDD, Detector de deriva de silicio, (área activa), resolución de 170 eV FWHM en la línea K-alfa de Mn de 5.95
Cámara: Cámara incorporada de alta resolución para visualización de muestras y una macrocámara para fotodocumentación o lectura y almacenamiento de códigos de barras 2D/3D
Duración de la batería: Incluye adaptador de CA y 2 baterías recargables (6 horas/batería)
Certificaciones: CE, RoHS, USFDA, Canada RED Act
Peso del producto: 3.1 libras con batería
Dimensiones: 7.25” x 10.5” x 4.5”
Transferencia de datos: WIFI, Bluetooth, conectividad USB a la mayoría de los dispositivos
Verificación de calibración: Obturador de acero inoxidable 316 aplicado manualmente – Incluido – se utiliza para la calibración al encender el dispositivo y cuando el usuario lo desee sin tener que enviar físicamente su dispositivo a GEMORO para ser recalibrado
Temperatura ambiental: 10°F a 130°F con ciclo de trabajo del 25%
Seguridad: Uso protegido con contraseña (nivel de usuario) y configuraciones internas (administrador)
Garantía: 3 años de garantía
Tenga en cuenta – cada estado tiene requisitos específicos para poseer una máquina emisora de rayos X. Deberá registrar su XRF visitando el sitio web del Departamento de Salud de su estado.
Mejores prácticas para una operación segura:
- El dedo disparador debe ser la parte del cuerpo más cercana a la ventana del analizador.
- Realice pruebas con el XRF apuntando lejos de otras personas
- Preste atención a dónde apunta el haz
- No sostenga muestras en la mano
- Mantenga el control del analizador
- Limite la operación a personal capacitado
Los elementos que se pueden detectar incluyen titanio (Ti), vanadio (V), cromo (Cr), manganeso (Mn), hierro (Fe), cobalto (Co), níquel (Ni), cobre (Cu), zinc (Zn), tungsteno (W), iridio (Ir), platino (Pt), oro (Au), plomo (Pb), bismuto (Bi), circonio (Zr), molibdeno (Mo), rutenio (Ru), rodio (Rh), paladio (Pd), plata (Ag), cadmio (Cd), estaño (Sn) y antimonio (Sb). No mide aluminio (Al), magnesio (Mg) o silicio (Si).
Método de datos de espectrometría XRF
La espectrometría XRF puede utilizar métodos empíricos (curvas de calibración que utilizan estándares de propiedades similares a las desconocidas) o parámetros fundamentales (FP) para llegar a un análisis elemental cuantitativo. La línea de analizadores de oro y metales preciosos XRF de GEMORO utiliza los parámetros fundamentales superiores porque permite realizar análisis elementales sin estándares ni curvas de calibración, lo cual es mucho más preferible. Esto permite al analista utilizar el sistema inmediatamente, sin tener que dedicar tiempo adicional a configurar curvas de calibración individuales para los diversos elementos y materiales de interés. Los FP, acompañados de bibliotecas almacenadas de materiales conocidos, no solo determinan la composición elemental de un material desconocido de forma rápida y sencilla, sino que también pueden identificar materiales desconocidos.
Más sobre cómo funciona el XRF:
El XRF funciona incidiendo una muestra con un haz de rayos X de un tubo de rayos X, lo que hace que los rayos X característicos de cada elemento de la muestra fluorescan. Un detector mide la energía y la intensidad (número de rayos X por segundo a una energía específica) de cada rayo X, que se transforma en una concentración elemental utilizando una técnica no estándar como parámetros fundamentales o curvas de calibración generadas por el usuario. La presencia de un elemento se identifica por la longitud de onda o energía de emisión de rayos X característicos del elemento. La cantidad de un elemento presente se cuantifica midiendo la intensidad de la emisión de rayos X característicos de ese elemento.
El nivel atómico
Todos los átomos tienen un número mixto de electrones. Estos electrones están dispuestos en orbitales alrededor del núcleo. El XRF de dispersión de energía (EDXRF) generalmente captura la actividad en los primeros tres orbitales de electrones, las líneas K, L y M.
Estos electrones están dispuestos en orbitales alrededor del núcleo. El XRF de dispersión de energía (EDXRF) generalmente captura la actividad en los primeros tres orbitales de electrones, las líneas K, L y M.
Los fotones primarios del tubo de rayos X tienen suficiente energía como para expulsar electrones de los orbitales más internos, creando una vacante (1). Un electrón de un orbital exterior se moverá al espacio recién vacante en el orbital interior para recuperar la estabilidad dentro del átomo.
A medida que el electrón del orbital exterior se mueve al orbital interior, libera energía en forma de un fotón de rayos X secundario. Esta liberación de energía se conoce como fluorescencia. Todos los elementos producen fluorescencia "característica" para sí mismos. La fluorescencia de cada elemento es única.